Study of the strength characteristics and radiation resistance of thin-film coatings based on CuX (X=Bi, Mg, Ni)

Автор

Shlimas, D.I.

Kozlovskiy, A.L.

Kaliekperov, M.E.

Kadyrzhanov, K.K.

Uglov, V.V.

Дата

2020

Редактор

Eurasian Journal of Physics and Functional Materials

ISSN

2522-9869

URI

http://rep.enu.kz/handle/enu/20647

Открыть

ST4704~1.PDF (666.9Kb)

Collections

• Materials Science[559]

Показать полную информацию