<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" version="2.0">
<channel>
<title>Выпуск 2019, №4 (129)</title>
<link>http://repository.enu.kz/handle/enu/4826</link>
<description/>
<pubDate>Fri, 03 Apr 2026 23:43:50 GMT</pubDate>
<dc:date>2026-04-03T23:43:50Z</dc:date>
<item>
<title>Структура керамики MgF2-WO2 синтезированной в мощном потоке электронов</title>
<link>http://repository.enu.kz/handle/enu/4840</link>
<description>Структура керамики MgF2-WO2 синтезированной в мощном потоке электронов
Мусаханов, Д.А.; Лисицын, В.М.; Карипбаев, Ж.Т.; Алпысова, Г.К.; Голковский, М.Г.; Даулетбекова, А.К.; Козловский, А.; Здоровец, М.В.
В статье представлены результаты исследования керамики на основе&#13;
активированного ионами вольфрама MgF 2 , синтезированной в воздушной атмосфере.&#13;
Изготовление образцов проводилось с использованием в качестве нагревателя мощного потока&#13;
электронов. Элементный состав полученных образцов и состояние их поверхности изучались с&#13;
использованием растрового электронного микроскопа. В результате было установлено, что&#13;
поверхность образца имеет сложную форму, характерную для застывшего расплава. На&#13;
некоторых образцах видны микрокристаллы с хорошей огранкой размером около 500 нм.&#13;
Проведены исследования распределения элементов по поверхности образцов, посредством&#13;
которых установлено, что элементный состав заметно различается при сканировании по&#13;
поверхности. С помощью дифрактометра был проведен рентгеноструктурный анализ&#13;
синтезированных образцов керамики, который показал наличие кристаллической фазы.
</description>
<pubDate>Tue, 01 Jan 2019 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://repository.enu.kz/handle/enu/4840</guid>
<dc:date>2019-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item>
<title>Проблема оценки последствий воздействия низкой дозы облучения</title>
<link>http://repository.enu.kz/handle/enu/4839</link>
<description>Проблема оценки последствий воздействия низкой дозы облучения
Нурсултанова, Н.С.; Жумадилов, К.Ш.
Суть метода ЭПР-спектрометрии заключается в том, что в эмали зубов&#13;
под действием радиации образуют стабильные долгоживущие радикалы, которые находятся&#13;
в зависимости от облучения и ее дозы. Это позволяет использовать эмаль как природный&#13;
дозиметр. Информацию о накопленной дозе в таком дозиметре считывают по спектрам ЭПР&#13;
зубов. Основными компонентами ЭПР спектрометрии является нативный и радиационноиндуцированные сигналы. Для исследования берут зубы, удаленные по стоматологическим&#13;
показаниям, лечение которых проводилось бормашинами последних поколений. Воздействие&#13;
от бор машин, при обработке зубов с высокими оборотами вращения, вызывает формирование&#13;
парамагнитных центров в эмали зубов. Поскольку механико-индуцированный сигнал&#13;
находится в одной спектральной области с радиационно-индуцированным сигналом, их&#13;
суперпозиция приводит к увеличению амплитуды дозиметрического сигнала и, как следствие,&#13;
завышению дозы, реконструируемой по спектрам ЭПР эмали зубов.
</description>
<pubDate>Tue, 01 Jan 2019 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://repository.enu.kz/handle/enu/4839</guid>
<dc:date>2019-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item>
<title>Первая и вторая фундаментальные формы поверхности для уравнения Камасса-Холма</title>
<link>http://repository.enu.kz/handle/enu/4838</link>
<description>Первая и вторая фундаментальные формы поверхности для уравнения Камасса-Холма
Мусатаева, А.Б.; Мырзакулов, Н.А.
Одной из актуальных задач математической физики является исследование&#13;
нелинейных дифференциальных уравнений в частных производных. Исследование в данном&#13;
направлении очень важно, так как результаты находят теоретическое и практическое&#13;
применение. Существуют различные подходы к решению данных уравнений. Методы&#13;
теории солитонов позволяют построить решения нелинейных дифференциальных уравнений&#13;
в частных производных. Одним из методов решения указанных выше уравнений является&#13;
метод обратной задачи рассеяния. Цель данной работы — определить первую и вторую&#13;
фундаментальные формы поверхности, соответствующие солитонному решению нелинейного&#13;
уравнения Камасса-Холма. Согласно данному подходу, в (1+1)-мерном случае нелинейные&#13;
дифференциальные уравнения в частных производных даются в виде условий нулевой&#13;
кривизны и являются условием совместности системы линейных уравнений. Хорошо&#13;
известно, что интегрируемые нелинейные уравнения Камасса-Холма играют важную роль&#13;
в изучении распространение волн. С помощью известных методов преобразования можно&#13;
найти различные солитонные решения уравнения Камасса-Холма. В данной работе с помощью&#13;
формулы Сим-Тафеля для нелинейного уравнения Камасса-Холма определены первая и вторая&#13;
фундаментальные формы поверхности. Полученный результат может быть использован для&#13;
дальнейшего исследования многокомпонентного обобщенного уравнения Камасса-Холма.
</description>
<pubDate>Tue, 01 Jan 2019 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://repository.enu.kz/handle/enu/4838</guid>
<dc:date>2019-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item>
<title>Изучение упругого рассеяния 3He на ядре 28Si при энергии 8-217 МэВ</title>
<link>http://repository.enu.kz/handle/enu/4837</link>
<description>Изучение упругого рассеяния 3He на ядре 28Si при энергии 8-217 МэВ
Кабышев, А.М.; Кутербеков, К.А.; Мұхамбетжан, А.М.; Нуржанов, А.Б.; Уәлшеров, Д.Т.; Бекмырза, К.Ж.; Рахимгалиева, И.Т.; Сарсенов, Р.М.; Махамбаева, И.У.
В настоящей работе представлены результаты анализа экспериментальных&#13;
данных (по дифференциальным сечениям упругого рассеяния и полным сечениям реакций)&#13;
взаимодействия ионов 3 He с ядром 28 Si при энергиях налетающего ядра от 8 до 217&#13;
МэВ. Расчеты проводились в рамках двойной фолдинг-модели с использованием M3Y-Reid&#13;
эффективного нуклон-нуклонного потенциала. Полученные величины дифференциальных и&#13;
полных сечений находятся в хорошем согласии с экспериментальными данными.
</description>
<pubDate>Tue, 01 Jan 2019 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://repository.enu.kz/handle/enu/4837</guid>
<dc:date>2019-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
</channel>
</rss>
