В настоящем работе предлагается изменения структуры поверхности в кристаллах TiO2, облученного ионами 167 МэВ Xe до флюенсов (2х1010см-2 и 2х1014см-2 ) и ионами Bi 1 ГэВ до флюенса (2х1010 см-2 ), температура облучения комнатная. Исследования проводились с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Проведен анализ зависимости морфологии латентных треков и ...