Изучены зависимости нанотвердости и фотолюминесценции F2 и F+3 центров от глубины в кристаллах LiF, облученных ионами 12 МэВ 12 С, 56 МэВ 40 Ar и 34 МэВ 84 Kr при флюенсах 1010 − 1015 ион/см 2 , с использованием лазерной сканирующей конфокальной микроскопии, травления дислокаций и методом наноиндентирования. Измерения нанотвердости и данные травления дислокаций показали значительный ...