dc.contributor.author |
Ибраева, А.Д. |
|
dc.date.accessioned |
2023-08-14T11:39:15Z |
|
dc.date.available |
2023-08-14T11:39:15Z |
|
dc.date.issued |
2019 |
|
dc.identifier.issn |
2616-6836 |
|
dc.identifier.uri |
http://rep.enu.kz/handle/enu/4804 |
|
dc.description.abstract |
Настоящая работа посвящена изучению применимости модели неупругого
термического пика для описания процесса трекообразования в нитриде кремния, облученном
высокоэнергетическими тяжелыми ионами. Проведено моделирование взаимодействия
налетающих ионов и атомов материала с помощью программы i-TS с использованием трех
коэффициентов электрон - фононного взаимодействия λ =3, 4,3 и 4,8 нм. Показано, что
экспериментальные значения размеров треков сильно отличаются от теоретических как для
кристаллического, так и для аморфного Si 3 N 4 , что говорит о неприменимости данного
подхода для описания экспериментальных результатов в нитриде кремния. |
ru |
dc.language.iso |
other |
ru |
dc.publisher |
ЕНУ им. Л.Н. Гумилева |
ru |
dc.subject |
инертная матрица |
ru |
dc.subject |
быстрые тяжелые ионы |
ru |
dc.subject |
нитрид кремния |
ru |
dc.subject |
трекообразование |
ru |
dc.subject |
просвечивающая электронная микроскопия |
ru |
dc.subject |
модель неупругого термического пика |
ru |
dc.subject |
кристаллическая и аморфная структура материала |
ru |
dc.subject |
электрон-фононное взаимодействие |
ru |
dc.title |
Изучение применимости модели неупругого термического пика для описания механизма трекообразования в Si3N4 |
ru |
dc.type |
Article |
ru |