Показать сокращенную информацию

dc.contributor.authorИбраева, А.Д.
dc.date.accessioned2023-08-14T11:39:15Z
dc.date.available2023-08-14T11:39:15Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.issn2616-6836
dc.identifier.urihttp://rep.enu.kz/handle/enu/4804
dc.description.abstractНастоящая работа посвящена изучению применимости модели неупругого термического пика для описания процесса трекообразования в нитриде кремния, облученном высокоэнергетическими тяжелыми ионами. Проведено моделирование взаимодействия налетающих ионов и атомов материала с помощью программы i-TS с использованием трех коэффициентов электрон - фононного взаимодействия λ =3, 4,3 и 4,8 нм. Показано, что экспериментальные значения размеров треков сильно отличаются от теоретических как для кристаллического, так и для аморфного Si 3 N 4 , что говорит о неприменимости данного подхода для описания экспериментальных результатов в нитриде кремния.ru
dc.language.isootherru
dc.publisherЕНУ им. Л.Н. Гумилеваru
dc.subjectинертная матрицаru
dc.subjectбыстрые тяжелые ионыru
dc.subjectнитрид кремнияru
dc.subjectтрекообразованиеru
dc.subjectпросвечивающая электронная микроскопияru
dc.subjectмодель неупругого термического пикаru
dc.subjectкристаллическая и аморфная структура материалаru
dc.subjectэлектрон-фононное взаимодействиеru
dc.titleИзучение применимости модели неупругого термического пика для описания механизма трекообразования в Si3N4ru
dc.typeArticleru


Файлы в этом документе

Thumbnail

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию