Показать сокращенную информацию
dc.contributor.author | Ибраева, А.Д. | |
dc.date.accessioned | 2023-08-14T11:39:15Z | |
dc.date.available | 2023-08-14T11:39:15Z | |
dc.date.issued | 2019 | |
dc.identifier.issn | 2616-6836 | |
dc.identifier.uri | http://rep.enu.kz/handle/enu/4804 | |
dc.description.abstract | Настоящая работа посвящена изучению применимости модели неупругого термического пика для описания процесса трекообразования в нитриде кремния, облученном высокоэнергетическими тяжелыми ионами. Проведено моделирование взаимодействия налетающих ионов и атомов материала с помощью программы i-TS с использованием трех коэффициентов электрон - фононного взаимодействия λ =3, 4,3 и 4,8 нм. Показано, что экспериментальные значения размеров треков сильно отличаются от теоретических как для кристаллического, так и для аморфного Si 3 N 4 , что говорит о неприменимости данного подхода для описания экспериментальных результатов в нитриде кремния. | ru |
dc.language.iso | other | ru |
dc.publisher | ЕНУ им. Л.Н. Гумилева | ru |
dc.subject | инертная матрица | ru |
dc.subject | быстрые тяжелые ионы | ru |
dc.subject | нитрид кремния | ru |
dc.subject | трекообразование | ru |
dc.subject | просвечивающая электронная микроскопия | ru |
dc.subject | модель неупругого термического пика | ru |
dc.subject | кристаллическая и аморфная структура материала | ru |
dc.subject | электрон-фононное взаимодействие | ru |
dc.title | Изучение применимости модели неупругого термического пика для описания механизма трекообразования в Si3N4 | ru |
dc.type | Article | ru |