ИССЛЕДОВАНИЕ ЛАТЕНТНЫХ ТРЕКОВ В ПРИПОВЕРХНОСТНОЙ  ОБЛАСТИ КРИСТАЛЛОВ TIO2 ОБЛУЧЕННЫХ ИОНАМИ С ЭНЕРГИЕЙ  ОСКОЛКОВ ДЕЛЕНИЯ

Аралбаева, Г.М.; Сейтбаев, А.

dc.contributor.author	Аралбаева, Г.М.
dc.contributor.author	Сейтбаев, А.
dc.date.accessioned	2025-03-19T06:02:50Z
dc.date.available	2025-03-19T06:02:50Z
dc.date.issued	2017-04-14
dc.identifier.isbn	978-9965-31-827-6
dc.identifier.uri	http://repository.enu.kz/handle/enu/22707
dc.description.abstract	В настоящем работе предлагается изменения структуры поверхности в кристаллах TiO2, облученного ионами 167 МэВ Xe до флюенсов (2х1010см-2 и 2х1014см-2 ) и ионами Bi 1 ГэВ до флюенса (2х1010 см-2 ), температура облучения комнатная. Исследования проводились с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Проведен анализ зависимости морфологии латентных треков и наноструктур на поверхности от уровня удельных ионизационных потерь энергии, поглощенной энергии (флюенса).	ru
dc.language.iso	other	ru
dc.publisher	Л.Н.Гумилев атындағы ЕҰУ	ru
dc.subject	Латентный трек	ru
dc.subject	хиллоки, быстрые тяжелые ионы	ru
dc.subject	аморфизация	ru
dc.subject	энергетические потери иона	ru
dc.subject	радиус треков	ru
dc.subject	длина пробега иона	ru
dc.title	ИССЛЕДОВАНИЕ ЛАТЕНТНЫХ ТРЕКОВ В ПРИПОВЕРХНОСТНОЙ ОБЛАСТИ КРИСТАЛЛОВ TIO2 ОБЛУЧЕННЫХ ИОНАМИ С ЭНЕРГИЕЙ ОСКОЛКОВ ДЕЛЕНИЯ	ru
dc.type	Article	ru