Abstract:
В результате проведенных исследований были измерены пределы определения
метода PIXE при бомбардировке пленки PET Hostaphan толщиной 12 мкм ускоренными
пучками C 2+ , O 2+ , N 2+ , Ne 3+ , Ar 6+ , Kr 13+ и Xe 20+ с энергией 1 МэВ/нуклон и пучками
C
2+ , O 3+ , N 3+ , Ne 4+ , Ar 7+ , Kr 14+ и Xe 22+ с энергией 1.6 МэВ/нуклон. Пределы
определения были рассчитаны для K-линий химических элементов Ti, Cr, Cu, Zn, Zr, Nb,
Mo, Ag, Cd, In, Sn, Sb и L-линий Zn, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, In, Sn, Sb, Ta, W, Pb, Bi.
Было установлено, что из двух использованных энергий наибольшая чувствительность
достигается для энергии ускоренных частиц 1.6 МэВ/нуклон. При этом для элементов с Z<30
и Z>51 оптимальным ионом для анализа микроэлементного состава образца на основе PET
пленки является неон, а для элементов в диапазоне 30 ≤ Z ≤ 51 - кислород.
Полученные результаты могут быть использованы в дальнейшем для развития на ускорителе тяжелых ионов ДЦ-60 количественного анализа элементного состава воздушных аэрозолей при использовании PET пленки в качестве матрицы фильтров. Они позволяют оптимизировать выбор типа ускоренной частицы и ее энергию для получения наилучших пределов определения метода PIXE.
